Blank Cover Image
タイトル、所在を表示します

マイクロ・エレクトロニクスの衝撃 : 社会と労働に与える影響 ・ ILOレポート

フォーマット:
図書
責任表示:
J.レーダ著 ; 日本能率協会監訳
言語:
日本語
出版情報:
東京 : 日本能率協会, 1981.5
形態:
258p ; 20cm
著者名:
書誌ID:
BN00832439
ISBN:
9784820710608 [4820710605]
子書誌情報
Loading
所蔵情報
Loading availability information
タイトルが類似している資料

類似資料:

1
 
2
 
3
 
4
 
5
 
6
 
7
 
8
 
9
 
10
 
11
 
12
 
1 雑誌 JMARレポート

日本能率協会総合研究所

日本能率協会総合研究所

オーム社

[出版者不明]

日本能率協会総合研究所

日本能率協会総合研究所

西野, 治

共立出版

Pressman, Roger S., Herron, S. Russell, 1944-, 岡田, 正志, 佐々木, 善郎

自然社, 産学社 (発売) ,1992.12

福田, 清成(1926-), 杉, 道夫, 雀部, 博之

シーエムシー

楠, 菊信(1927-), 安田, 幸夫(1940-), 大岩, 元

オーム社

岡田, 龍雄(1952-)

オーム社

元岡, 達(1929-), 菅野, 卓雄(1931-), 渡辺, 誠(1926-), 淵, 一博(1936-), 石井, 威望(1930-)

岩波書店

Kassakian, John G., Schlecht, Martin F., Verghese, George C., 赤木, 泰文(1951-)

日刊工業新聞社

石井, 修二(1941-), 奥林, 康司(1944-)

中央経済社

榊, 裕之, 横山, 直樹(工学)

オーム社