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何のためのテスト? : 評価で変わる学校と学び

フォーマット:
図書
責任表示:
ケネス・J.ガーゲン, シェルト・R.ギル著 ; 東村知子, 鮫島輝美訳
言語:
日本語
出版情報:
京都 : ナカニシヤ出版, 2023.3
形態:
viii, 223p ; 21cm
著者名:
書誌ID:
BD00745593
ISBN:
9784779517044 [4779517044]
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Gergen, Kenneth J., 鮫島, 輝美, 東村, 知子

ナカニシヤ出版

石井, 英真(1977-), 鈴木, 秀幸(1953-)

図書文化社

尾木, 和英(1935-)

三省堂

石井, 英真(1977-), 鈴木, 秀幸(1953-)

図書文化社

Gergen, Kenneth J., 東村, 知子

ナカニシヤ出版

渡辺, 貴裕, 藤原, 由香里

時事通信出版局, 時事通信社 (発売)

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前田, 啓朗, 山森, 光陽(1975-), 磯田, 貴道, 廣森, 友人, 三浦, 省五(1942-)

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明治図書出版

村越, 正則(1940-), 橋本, 誠司(1941-), 西村, 佐二(1944-)

ぎょうせい

現代教育と評価企画委員会

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