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In situ real-time characterization of thin films
- フォーマット:
- 図書
- 責任表示:
- edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss
- 言語:
- 英語
- 出版情報:
- New York : J. Wiley, c2001
- 形態:
- xi, 263 p. ; 25 cm
- 著者名:
- シリーズ名:
- A Wiley-Interscience publication <BA00493885>
- 書誌ID:
- BA51580921
- ISBN:
- 9780471241416 [0471241415] (: cloth : alk. paper)
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