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In situ real-time characterization of thin films

フォーマット:
図書
責任表示:
edited by Orlando Auciello, Alan R. Krauss
言語:
英語
出版情報:
New York : J. Wiley, c2001
形態:
xi, 263 p. ; 25 cm
著者名:
シリーズ名:
A Wiley-Interscience publication <BA00493885>
書誌ID:
BA51580921
ISBN:
9780471241416 [0471241415] (: cloth : alk. paper)
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